Τομέας Φυσικής

| Σχολή E.Μ.Φ.Ε. | Ε.Μ.Π. |
| Τοποθεσία | Φωτογραφίες | Σύνδεσμοι | Στατιστικά | Συνελεύσεις |
| Προπτυχιακά | Μαθήματα | Εργαστήρια | Διδάσκοντες | Διπλωματικές | Μεταπτυχιακά | Οδηγός Σπουδών |
                            | αλφαβητικά | κατά ιδιότητα | Διευθυντής | Γραμματεία | Επιτροπές | Μόνο για Μέλη |
                                            | Προπτυχιακοί | Μεταπτυχιακοί |
                                                                   | Ερευνητικές Ομάδες | Σεμινάρια | Συνέδρια | Σύνδεσμοι |
                                                                                           | Γενικές | Εργαστηρίων | Επιτηρήσεων |
                                                                                                | Διευθυντής | Γραμματεία | Web Μaster |

Τα Όργανα του Τομέα: Προφιλόμετρο

English Version

Description:

The Dektak 150 stylus profiler comes in the following configurations: The standard 2-D Dektak 150 system, which includes a two-axis, manual sample-positioning stage with 101.6 x 101.6 mm (4 x 4 inches) of X-Y translation, manual leveling, two-point programmable or cursor software leveling, and manual theta rotation. This standard stage accommodates samples up to 90 mm (3.54 inches) thick and performs long scans of 55 mm (2.16 inches). It provides ± 50.8 mm (2 inches) of X-Y translation as well as manual theta positioning. In addition to 50 mm (1.97 inch), 100 mm (3.94 inch), and 150 mm (5.90 inch) wafer alignment pins, the theta chuck provides three-point suspension for performing stress analysis.

AFM AFM
AFM
AFM

Valid XHTML 1.0 | Browser Compatibility | Physics Webmaster | Last Update: 19 September, 2014 | Δημιουργός: Δημήτριος Μούρμουρας created by Dimitris Mourmouras